NC-AFM'99 - proceedings of the second International Workshop on Noncontact Atomic Force Microscopy : Pontresina, Switzerland, September 1-4, 1999

Författare
E. (Ernst) Meyer Christoph Gerber Roland Bennewitz International Workshop on Noncontact Atomic Force Microscopy 1999 : Pontresina)
(Edited by: R. Bennewitz, Ch. Gerber and E. Meyer.)
Genre
Konferenser, Ej skönlitteratur, Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
North-Holland 2000 Nederländerna, Amsterdam ix sidor., sidor. [207]-428 sidor. ill.